Frank Sill's Text Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien bei konstanten Performanceanforderungen ist nun auf dem Buchmarkt erhältlich
13.01.2009 00:54:50
Frank Sill hat den Text Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien bei konstanten Performanceanforderungen veröffentlicht
04.12.2008 18:30:41
Frank Sill hat einen neuen Text hochgeladen
24.11.2008 16:05:00
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