Inhalt:
1. Allgemeines
1.1 Vorwort
1.2 Messprinzipien
2. Tätigkeitsnachweis der einzelnen Praktikumstage
3. Wochenberichte (Schwerpunktprojekte der einzelnen Wochen)
3.1 37. KW: Firmenstruktur und Messgeräte
3.2 38: KW: Vorgehen beim Kalibrieren eines Optischen Messtisches
3.3 39. KW: Taktiles Messen - Funktion eines Tasters
3.4 40. KW: Suche nach einem Prinzipbedingtem Messfehler - Sensibilisierung für Messeinflüsse
3.5 41. KW: Fokussier Laser – Messen mit dem Foucould Laser
3.6 42+43. KW: Verbesserung des Autofokus-Algorithmus beim Zoomen
4. Anhang
4.1 Quellenverzeichnis
4.2 Firmenwebseiten
4.3 Abbildungsverzeichnis
4.4 Beispiel eines Prüfzertifikates
1. Allgemeines
1.1 Vorwort
In den folgenden Seiten sind die wesentlichen Erkenntnisse und Erfahrungen meines Praktikums beim Koordinatenmesssystemhersteller WERTH MESSTECHNIK beschrieben. In dem folgenden Unterkapitel ist das Messprinzip der Koordinatenmessung kurz dargestellt, in Abschnitt 2 ist die Übersicht der Tätigkeiten an jedem Praktikumstag zu finden. In Kapitel 3 werden spezifische Probleme, die von mir bearbeitet wurden, beschrieben. Diese umfassen die Schwerpunkte jeder Praktikumswoche. Hierbei ist jeweils ein Problem in Gänze dargestellt und weniger den chronologischen Ablauf der Woche geschildert. Da das Projekt zum Überprüfen des Werth-Zooms (Kapitel 3.6) über einen Zeitraum von mehr als zwei Wochen bearbeitet wurde, beschreiben zwei Wochenberichte dieses Projekt.
1.2 Allgemeine Messprinzipien
1.2.1 Photoelektrische, inkrementale Meßsysteme mit Glasmassstab Moire - Prinzip= ( Durchlicht-Prinzip )
An Werkzeugmaschinen sind inkrementale Weg- und Winkelmeßsysteme, die nach dem photoelektrischen Prinzip im Durchlichtverfahren und mit statischer Abtastung arbeiten, am weitesten verbreitet.
- Funktionsweise: Photoelektrische Sensoren setzen Helligkeitsschwankungen in elektrische Signale um (Moiré-Effekt).
- Bauform: Glasmaßstab, Abtasteinheit, optischer Aufbau. Maßstab mit Präzisionsteilung aus dünnen, im Hochvakuum aufgedampften Strichen aus Chrom
- Beleuchtung: Miniatur-Glühbirne oder Halbleiter-Lichtquelle.
- Technische Daten: Fertigungs- bzw. genauigkeitsbedingte maximale Messlänge ca. 3 m.
- Üblicherweise verwendete Teilungsperiode: 10 mm.
- Messabweichungen in der höchsten Genauigkeitsklasse: auf 1 m ± 3 mm.
- Auflösung von Winkelmeßsystemen begrenzt auf 4.000 bis 10.000 Messschritte pro Umdrehung. [nach Sch].
Abbildung in dieser Leseprobe nicht enthalten
Abb. 1.1: Durchlicht-Prinzip nach Moire
(A: Abtastplatte; M:Massstab; L: Lichtquelle; K: Kondensorlinse; P Photoelement; C: Teilungsperiode; R: Referenzmarke)
1.2.2 Photoelektrisches Meßsystem mit Stahlmaßstab - Auflicht-Prinzip:
Für Werkzeugmaschinen mit Verfahrwegen über 3m, Abtastung nach dem Auflichtverfahren.
- Bauform: Maßstabsteilung auf rostfreien Stahlbändern, die das thermische Verhalten großer Werkzeugmaschinen zum Teil kompensieren.
- Teilung durch hochreflektierende Striche mit 100 mm Periode .
- Halbleiter-Lichtquelle in Kombination mit Photoelement zur Abtastung der Teilung.
- Technische Daten: Teilungen mit 40 mm Periode oder grösser ; Maximal zulässige Verfahrgeschwindigkeit: 60 m/min, Messlängen: bis 30 m, Auflösung: meist 1 mm. [nach Sch].
Abbildung in dieser Leseprobe nicht enthalten
Abb. 1.2 Auflichtprinzip
(A: Abtastplatte; M.Massstab; L.Lichtquelle; K: Kondensorlinse; P Photoelement; R: Referenzmarke)
1.2.3 Das Interferentielle Messprinzip - Gitter-Interferometer
- Signalgewinnung: Das Licht einer LED durchläuft zwei hintereinander angeordnete Beugungsgitter. Beim Durchgang durch das transparente Abtastgitter entstehen im wesentlichen drei Strahlanteile mit den Beugungsordnungen -1, 0 und +1. Diese werden am Phasengitter des Maßstabs erneut gebeugt, wobei die 0. Beugungsordnung des Maßstabs eliminiert wird. Die vom Maßstab reflektierten Strahlanteile werden nach nochmaligen Durchlauf durch das Abtastgitter zur Interferenz gebracht (überlagert).
- Messprinzip: Bei einer Bewegung des Maßstabs (Reflexions-Phasengitter) entstehen in den abgelenkten Beugungsordnungen relative Phasenverschiebungen, die proportional zur Wegänderung sind. Die Intensität der interferierenden Teilstrahlen ist eine Funktion der relativen Phasenbeziehung. Das Signal einer Photodiode liefert somit Informationen über den Verschiebungsweg des Maßstabs. Meßsysteme, die nach diesem beschriebenen interferentiellen Messprinzip arbeiten, verbinden die Vorteile einer sehr feinen Teilung, hoher Auflösung und Genauigkeit mit großer Toleranz des Abtastspaltes. Typische Werte sind eine Messlänge von 20 mm bei einer Auflösung im µm-Bereich. [nach Sch].
Interferentielles Messprinzip
(A: Abtastgitter; M:Massstab;
Q, y: Phasenänderung der Wellenfronten;
A Phasendiff. der interferierenden
2. Tätigkeitsnachweis:
Montag, 09.September 2002
Betriebsbesichtigung Sicherheitseinweisung
Assistenz bei der Kalibrierung und Abnahme es Portalmessgerätes (Video-Check)
Dienstag, 10.September
Assistenz bei der Kalibrierung und Abnahme es Portalmessgerätes (Video-Check)
Einblicke in Messverfahren, Kalibrierung und Aufbau des Messprogramms
Mittwoch, 11.September
Ausrichtübungen von Messnormalen und Ausrichtung eines Koordinatensystems
Assistenz bei der Kalibrierung und Abnahme es Portalmessgerätes (VC)
Donnerstag, 12.September
Assistenz bei der Kalibrierung der Optik eines Tischmessgerätes (Scope-Check)
Ausrichtübungen von Messnormalen und Ausrichtung eines Koordinatensystems
Freitag, 13.September
Einarbeiten in das Messprogramm WINWerth 6.0
Montag, 16.September 2002
Eigenständiges Kalibrieren eines Tischgerätes, Ausrichtübungen
Dienstag, 17.September
Einmessen einer Zoomoptik einer Portalmessmaschine (VC )
Mittwoch, 18.September
Einführung in das Messen mit einem Messtaster (Taktiles Messen)
Donnerstag, 19.September
Ausrichtübungen und Messübungen mit einem Taktilen Messtaster
Freitag, 20.September
Häufig gestellte Fragen
Was ist der Inhalt dieses Dokuments?
Dieses Dokument ist ein umfassender Sprach-Preview, der den Titel, das Inhaltsverzeichnis, die Ziele und Hauptthemen, Kapitelzusammenfassungen und Schlüsselwörter enthält. Es handelt sich um einen Praktikumsbericht bei WERTH MESSTECHNIK, einem Hersteller von Koordinatenmesssystemen.
Was sind die Hauptabschnitte des Dokuments?
Das Dokument ist in folgende Hauptabschnitte unterteilt: Allgemeines (Vorwort, Messprinzipien), Tätigkeitsnachweis der einzelnen Praktikumstage, Wochenberichte (Schwerpunktprojekte der einzelnen Wochen), und Anhang (Quellenverzeichnis, Firmenwebseiten, Abbildungsverzeichnis, Beispiel eines Prüfzertifikates).
Welche Messprinzipien werden im Dokument beschrieben?
Das Dokument beschreibt verschiedene Messprinzipien, darunter: Photoelektrische, inkrementale Meßsysteme mit Glasmassstab (Moire - Prinzip), Photoelektrisches Meßsystem mit Stahlmaßstab (Auflicht-Prinzip), und das Interferentielle Messprinzip (Gitter-Interferometer).
Was beinhalten die Wochenberichte?
Die Wochenberichte beschreiben die Schwerpunktprojekte der einzelnen Praktikumswochen, darunter: Firmenstruktur und Messgeräte, Vorgehen beim Kalibrieren eines Optischen Messtisches, Taktiles Messen - Funktion eines Tasters, Suche nach einem Prinzipbedingtem Messfehler, Fokussier Laser – Messen mit dem Foucould Laser, und Verbesserung des Autofokus-Algorithmus beim Zoomen.
Was enthält der Tätigkeitsnachweis?
Der Tätigkeitsnachweis listet die Aktivitäten auf, die an jedem Praktikumstag durchgeführt wurden, wie z.B. Betriebsbesichtigung, Assistenz bei der Kalibrierung und Abnahme von Messgeräten, Ausrichtübungen von Messnormalen, Einarbeiten in das Messprogramm WINWerth 6.0 und Messübungen mit einem Taktilen Messtaster.
Welche Art von Unternehmen ist WERTH MESSTECHNIK?
WERTH MESSTECHNIK ist ein Hersteller von Koordinatenmesssystemen.
Was ist WINWerth 6.0?
WINWerth 6.0 ist ein Messprogramm.
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- Christoph Döring (Author), 2002, Praktikumsbericht Messtechnik, Munich, GRIN Verlag, https://www.grin.com/document/107590
