Textes scientifiques sur high-finesse

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Developing High-Finesse Cavities for Phase Contrast Electron Microscopy

Autor:in: Kevin Li (Auteur), Andrew Lee (Auteur), Brian Lai (Auteur)

Matière: Physique - Optique

Catégorie: Travail de Recherche , 2014 22 Pages

N° de catalogue: 304160

Prix: US$ 0,99