Wissenschaftliche Texte zu Atomic force microscopy

Atomic force microscopy ist eine zerstörungsfreie Analysemethode, die in der Materialwissenschaft und Nanotechnologie eingesetzt wird. Sie ermöglicht die hochauflösende Abbildung von Oberflächen und die Messung von Kräften auf molekularer Ebene. In diesem Kontext wird Atomic force microscopy vor allem in der Physik und Chemie verwendet, um die Eigenschaften von Materialien zu untersuchen.

2 Veröffentlichungen

Measurement Techniques for Formulated Products. Pharmaceutical tablets, liquid detergents used in laundry and paints

Autor:in: Advanced Chemical Engineering MSC Sharyar Ahmed (Autor:in)

Fach: Ingenieurwissenschaften - Chemieingenieurwesen

Kategorie: Forschungsarbeit , 2017 47 Seiten , Note: 80.00

Katalognummer: 903242

Preis: US$ 21,99
Synthesis and characterization of silver nanoparticles by "Rhizopus stolonifer" and its activity against multidrug resistant "Escherichia coli" and "Staphylococcus aureus"

Autor:in: Afreen Banu (Autor:in), Vandana Rathod (Autor:in), E. Ranganath (Autor:in)

Fach: Chemie - Sonstiges

Kategorie: Studienarbeit , 2011 18 Seiten

Katalognummer: 192147

Preis: US$ 15,99

Die Atomic force microscopy basiert auf dem Prinzip der Rasterkraftmikroskopie, bei der eine feine Spitze über eine Oberfläche geführt wird und die Kräfte zwischen der Spitze und der Oberfläche misst. Dies ermöglicht die Erstellung hochauflösender Bilder von Oberflächen und die Untersuchung von Materialeigenschaften auf nanoskaliger Ebene. Die Anwendung von Atomic force microscopy ist vielfältig und umfasst die Untersuchung von Biomaterialien, die Charakterisierung von Nanopartikeln und die Analyse von Oberflächen in der Materialwissenschaft. Du findest wissenschaftliche Arbeiten zu Atomic force microscopy als PDF und eBook, viele auch als Print-on-Demand, bei GRIN.