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Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik


Diploma Thesis, 1999

89 Pages, Grade: 1


Abstract or Introduction

Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt, um Verzerrungen atomarer Größenordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Größen wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und Rückschlüsse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden benötigt, um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern, die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips, Halbleiterlaser und Leuchtdioden sind.

Details

Title
Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik
College
University of Bonn
Grade
1
Author
Year
1999
Pages
89
Catalog Number
V185429
ISBN (eBook)
9783656999706
ISBN (Book)
9783867461948
File size
5708 KB
Language
German
Keywords
vermessung, kristallstrukturen, methoden, bildverarbeitung, statistik
Quote paper
Olaf Schmidt (Author), 1999, Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik, Munich, GRIN Verlag, https://www.grin.com/document/185429

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Title: Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik


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