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Publicación mundial de textos académicos
Textos académicos sobre x-ray reflectivity/ reflectometry
1 publications
Evaluation of Novel Metalorganic Precursors for Atomic Layer Deposition of Nickel-based Thin Films
Autor:in:
M.Sc. Nanoelectronic Systems Varun Sharma (Autor)
Asignatura:
Física - Electromagnetismo
Categoría:
Tesis de Máster , 2015 124 Páginas , Calificación: 1.0
No. de catálogo:
294280
Precio:
US$ 0,-
