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Auteur: Prof. Dr.-Ing. Frank Sill Torres

Prof. Dr.-Ing. Frank Sill Torres

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Institution / Université
Federal University of Minas Gerais
Profession
SCHOLAR
Auteur depuis
24/11/2008

Info

Profession
SCHOLAR
Auteur depuis
24/11/2008
Site web
http://www.cpdee.ufmg.br/~frank/
Autre profil sur le Web
http://www.asic-reliability.com

Textes (1)

  • Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien bei konstanten Performanceanforderungen
    Titre: Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien bei konstanten Performanceanforderungen
    Matière: Electrotechnique
    Catégorie: Thèse de Doctorat , 2007 224 Pages , Note: 1,0
    N° de catalogue: 119167
    Prix: US$ 41,99
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