Wissenschaftliche Texte zu Atomic Force Microscope

1 Veröffentlichungen

Physikalische Eigenschaften und Anwendung des Rasterkraftmikroskops
Physikalisches Praktikum für Fortgeschrittene

Autor:in: Moritz Lehmann (Autor:in), Niklas Stenger (Autor:in)

Fach: Physik - Angewandte Physik

Kategorie: Praktikumsbericht / -arbeit , 2017 31 Seiten , Note: 2,7

Katalognummer: 383227

Preis: US$ 18,99