Textes scientifiques sur Atomic Force Microscope

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Physikalische Eigenschaften und Anwendung des Rasterkraftmikroskops
Physikalisches Praktikum für Fortgeschrittene

Autor:in: Moritz Lehmann (Auteur), Niklas Stenger (Auteur)

Matière: Physique - Physique appliquée

Catégorie: Rapport de Stage , 2017 31 Pages , Note: 2,7

N° de catalogue: 383227

Prix: US$ 18,99