Academic texts about Atomic Force Microscope

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Physikalische Eigenschaften und Anwendung des Rasterkraftmikroskops
Physikalisches Praktikum für Fortgeschrittene

Autor:in: Moritz Lehmann (Author), Niklas Stenger (Author)

Subject: Physics - Applied physics

Category: Internship Report , 2017 31 Pages , Grade: 2,7

Catalog Number: 383227

Price: US$ 18.99