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Textes scientifiques sur  Test data compression

1  Publications
  • Hybrid Code-Based Test Data Compression and Decompression for VLSI Circuits
    Titre: Hybrid Code-Based Test Data Compression and Decompression for VLSI Circuits
    Autor:in: Dr. Kalamani Chinnappa Gounder (Auteur)
    Matière: Informatique - Informatique appliquée
    Catégorie: Thèse de Doctorat , 2018 211 Pages , Note: 6
    N° de catalogue: 430834
    Prix: US$ 46,99
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