Academic texts about Wafer

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Kapazitiv gekoppelte Impulsbelastung zur Evaluierung der Festigkeit von integrierten Schaltungen gegenüber elektrostatischen Entladungen
cc-TLP auf Waferlevel

Autor:in: Dirk Walter (Author)

Subject: Electrotechnology

Category: Diploma Thesis , 2006 72 Pages , Grade: 1.1

Catalog Number: 182673

Price: US$ 34.99
Polysilizium-Heaterstrukturen für den Einsatz in hochbeschleunigten Zuverlässigkeitstests auf Waferebene

Autor:in: David Weinberger (Author)

Subject: Electrotechnology

Category: Bachelor Thesis , 2011 72 Pages , Grade: 1

Catalog Number: 200353

Price: US$ 34.99