Textes scientifiques sur Wafer

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Kapazitiv gekoppelte Impulsbelastung zur Evaluierung der Festigkeit von integrierten Schaltungen gegenüber elektrostatischen Entladungen
cc-TLP auf Waferlevel

Autor:in: Dirk Walter (Auteur)

Matière: Electrotechnique

Catégorie: Mémoire (de fin d'études) , 2006 72 Pages , Note: 1.1

N° de catalogue: 182673

Prix: US$ 34,99
Polysilizium-Heaterstrukturen für den Einsatz in hochbeschleunigten Zuverlässigkeitstests auf Waferebene

Autor:in: David Weinberger (Auteur)

Matière: Electrotechnique

Catégorie: Thèse de Bachelor , 2011 72 Pages , Note: 1

N° de catalogue: 200353

Prix: US$ 34,99